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產(chǎn)品中心三維光學輪廓儀布魯克
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布魯克三維光學輪廓儀精準匹配需求 在半導體領(lǐng)域，該設(shè)備用于測量硅晶圓薄膜厚度、光刻膠臺階高度及CMP后表面平整度，為工藝參數(shù)優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支持。
更新時間：2025-10-23
產(chǎn)品型號：ContourX-200
瀏覽量：107
布魯克三維光學輪廓儀高效測量的實踐指南 設(shè)備支持手動與半自動雙模式操作。手動模式下，操作人員通過微調(diào)旋鈕快速調(diào)整樣品位置與焦距，適配少量多批次樣品測量需求。
更新時間：2025-10-23產(chǎn)品型號：ContourX-200瀏覽量：94
布魯克三維光學輪廓儀多場景適配解決方案 該設(shè)備以靈活性與擴展性著稱，適用于研發(fā)實驗室與工業(yè)生產(chǎn)線。其Z軸分辨率與放大倍率無關(guān)，確保不同視野下結(jié)果一致性。
更新時間：2025-10-23產(chǎn)品型號：ContourX-200瀏覽量：79
布魯克光學輪廓儀三維測量新維度 ContourX-200是布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀，采用白光干涉（WLI）技術(shù)實現(xiàn)非接觸式表面形貌測量。
更新時間：2025-10-23產(chǎn)品型號：ContourX-200瀏覽量：93布魯克白光干涉儀輪廓儀三維測量新維度 ContourX-200是布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀，采用白光干涉（WLI）技術(shù)實現(xiàn)非接觸式表面形貌測量。其核心配置包括5百萬像素攝像頭與電動XY載物臺，支持2D/3D高分辨率測量。
更新時間：2025-10-23產(chǎn)品型號：ContourX-500瀏覽量：77布魯克白光干涉儀輪廓儀三維測量新維度 ContourX-200是布魯克推出的臺式三維光學輪廓儀，采用白光干涉（WLI）技術(shù)實現(xiàn)非接觸式表面形貌測量。
更新時間：2025-10-23產(chǎn)品型號：ContourX-200瀏覽量：74
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