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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar三維共聚焦輪廓儀空間測(cè)量新方案 Sensofar S neox Five Axis在標(biāo)準(zhǔn)S neox基礎(chǔ)上升級(jí)五軸運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng),支持樣品臺(tái)傾斜與旋轉(zhuǎn),可測(cè)量復(fù)雜曲面與側(cè)壁結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀工業(yè)級(jí)3D測(cè)量工具 Sensofar S lynx為經(jīng)濟(jì)型三維共聚焦白光干涉輪廓儀,采用一體化設(shè)計(jì),體積小巧且操作靈活。設(shè)備集成共聚焦、白光干涉與相位差干涉技術(shù),支持快速切換測(cè)量模式,無(wú)需硬件插拔。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術(shù)表面測(cè)量 Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學(xué)輪廓儀采用模塊化設(shè)計(jì),集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測(cè)量模式。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測(cè)量結(jié)合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測(cè)量技術(shù),適用于微納米級(jí)表面形貌分析,可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測(cè)需求。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):S neox
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