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臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸臺(tái)式掃描電鏡
產(chǎn)品分類
澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎(chǔ)型掃描電鏡,在材料表面觀察領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。其核心電子光學(xué)系統(tǒng)采用高品質(zhì)磁透鏡,通過(guò)多層線圈纏繞技術(shù),形成均勻的磁場(chǎng)分布,為電子束的聚焦提供穩(wěn)定條件。
更新時(shí)間:2025-10-21
產(chǎn)品型號(hào):
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樣品處理與制備:ZEM系列臺(tái)式電鏡 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
更新時(shí)間:2025-10-21
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原位實(shí)驗(yàn)方案:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
更新時(shí)間:2025-10-21
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納米尺度分析:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合,可提供多維度的樣品信息。
更新時(shí)間:2025-10-21
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高分辨成像:ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶,澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。
更新時(shí)間:2025-10-21
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澤攸透射電鏡:探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡(SEM),為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊,適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-10-21
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