布魯克三維光學(xué)輪廓儀復(fù)雜樣品也能輕松測(cè)
一、透明樣品:不被反光 “干擾" 的檢測(cè)方案
在光學(xué)零件檢測(cè)中,玻璃鏡片、透明薄膜這類樣品的反光問題,常讓傳統(tǒng)設(shè)備難以清晰捕捉表面狀態(tài),而 ContourX-500 能通過專屬優(yōu)化方案,避開反光干擾,精準(zhǔn)獲取數(shù)據(jù)。
比如檢測(cè)手機(jī)鏡頭玻璃時(shí),傳統(tǒng)設(shè)備可能因表面反光導(dǎo)致劃痕、氣泡 “看不清",需要反復(fù)調(diào)整角度才能勉強(qiáng)檢測(cè)。ContourX-500 只需開啟 “透明樣品模式",系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)調(diào)整光源角度與成像算法,削弱表面反光,讓玻璃表面的細(xì)微劃痕、微小氣泡清晰呈現(xiàn),不用再依賴操作人員的經(jīng)驗(yàn)反復(fù)調(diào)試。
檢測(cè)光學(xué)薄膜時(shí),即使薄膜厚度極薄,也能通過非接觸測(cè)量方式,完整記錄薄膜表面的平整度狀態(tài),避免因接觸壓力導(dǎo)致薄膜變形,影響檢測(cè)結(jié)果。無(wú)論是研發(fā)階段的薄膜工藝優(yōu)化,還是生產(chǎn)環(huán)節(jié)的質(zhì)量抽檢,都能快速獲得可靠數(shù)據(jù),不用再擔(dān)心透明材質(zhì)帶來(lái)的檢測(cè)難題。
二、柔性樣品:不擔(dān)心 “變形" 的測(cè)量保障
塑料薄膜、金屬箔片等柔性樣品,最大的檢測(cè)痛點(diǎn)是容易因夾持受力變形,導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真,而 ContourX-500 從樣品固定到測(cè)量方式,都為柔性樣品做了適配設(shè)計(jì)。
以食品包裝用塑料薄膜檢測(cè)為例,需要測(cè)量薄膜表面的粗糙度,判斷是否影響印刷效果。ContourX-500 的樣品臺(tái)支持 “輕壓固定",用柔軟的固定組件輕輕壓住薄膜邊緣,避免局部受力導(dǎo)致褶皺;搭配非接觸測(cè)量技術(shù),無(wú)需接觸薄膜表面就能完成掃描,從根本上杜絕因測(cè)量方式導(dǎo)致的樣品變形,確保粗糙度數(shù)據(jù)真實(shí)反映薄膜實(shí)際狀態(tài)。
檢測(cè)金屬箔片(如鋰電池用鋁箔)時(shí),即使箔片薄至幾微米,也能通過設(shè)備的低倍率快速掃描,查看是否存在針孔、劃痕等缺陷,同時(shí)高倍率可聚焦局部區(qū)域,觀察細(xì)微的表面凸起,為箔片生產(chǎn)工藝調(diào)整提供參考。整個(gè)檢測(cè)過程不用擔(dān)心樣品破損或變形,降低檢測(cè)損耗。
三、微小樣品:不放過 “細(xì)節(jié)" 的精準(zhǔn)捕捉
電子行業(yè)的芯片引腳、微型齒輪等微小樣品,檢測(cè)難點(diǎn)在于 “尺寸小、細(xì)節(jié)多",傳統(tǒng)設(shè)備可能難以清晰呈現(xiàn)細(xì)微結(jié)構(gòu),而 ContourX-500 通過靈活的物鏡搭配與細(xì)節(jié)優(yōu)化,輕松應(yīng)對(duì)這類樣品檢測(cè)。
比如檢測(cè)芯片上的細(xì)小鍵合線,直徑僅幾十微米,低倍率下難以看清形態(tài),高倍率又容易遺漏整體分布。ContourX-500 可先用低倍率掃描,確定鍵合線的整體分布區(qū)域,再切換高倍率聚焦單根鍵合線,觀察其弧度、高度是否符合標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)軟件支持 “局部放大分析",框選重點(diǎn)區(qū)域就能生成細(xì)節(jié)數(shù)據(jù),不用反復(fù)切換視野。
檢測(cè)微型齒輪時(shí),齒輪齒牙的微小磨損會(huì)影響傳動(dòng)精度,設(shè)備的高倍率物鏡能清晰捕捉齒牙表面的磨損痕跡,甚至能觀察到微米級(jí)的凹陷,幫助判斷齒輪是否達(dá)到使用壽命。軟件還能自動(dòng)統(tǒng)計(jì)齒牙的尺寸偏差,生成直觀的對(duì)比報(bào)告,不用手動(dòng)測(cè)量計(jì)算,減少人為誤差。
無(wú)論是透明、柔性還是微小樣品,ContourX-500 都能通過針對(duì)性的設(shè)計(jì)與功能優(yōu)化,解決傳統(tǒng)檢測(cè)中的痛點(diǎn),讓復(fù)雜樣品檢測(cè)不再 “難操作、難精準(zhǔn)",成為覆蓋多類型樣品的實(shí)用測(cè)量工具。布魯克三維光學(xué)輪廓儀復(fù)雜樣品也能輕松測(cè)