在微觀測量的廣闊天地里，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學(xué)輪廓儀憑借其魅力，吸引著眾多科研人員與工業(yè)生產(chǎn)者的目光，為他們的工作帶來高效與精準(zhǔn)。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選
產(chǎn)品細(xì)節(jié)：緊湊外觀，便捷操作
ContourX - 500 采用緊湊的桌面式設(shè)計，不占過多空間，特別適合實(shí)驗(yàn)室空間有限的環(huán)境。操作界面簡潔直觀，各類功能按鈕一目了然，新手也能快速熟悉操作流程。樣品臺設(shè)計巧妙，具備高精度的移動和定位功能，可靈活調(diào)整樣品位置，確保測量區(qū)域準(zhǔn)確無誤。設(shè)備配備的 5MP 攝像頭及 1200x1000 測量陣列，有效降低噪聲，提升橫向分辨率，讓微小細(xì)節(jié)清晰呈現(xiàn)。
產(chǎn)品性能：多元技術(shù)，出色表現(xiàn)
這款輪廓儀融合了*的白光干涉技術(shù)與精密光學(xué)系統(tǒng)。白光干涉技術(shù)通過分析不同波長光干涉產(chǎn)生的條紋，精準(zhǔn)識別樣品表面微觀起伏。測量過程中，設(shè)備運(yùn)行穩(wěn)定，受外界環(huán)境干擾影響小，保障測量結(jié)果的穩(wěn)定性與一致性。它擁有出色的 Z 軸分辨率和準(zhǔn)確度，可在多種復(fù)雜表面上獲取高質(zhì)量測量數(shù)據(jù)。測量范圍靈活，能根據(jù)樣品需求調(diào)整參數(shù)，無論是對大面積區(qū)域進(jìn)行快速掃描，還是針對微小局部進(jìn)行精細(xì)測量，都能輕松勝任。
用材講究：優(yōu)質(zhì)選材，耐用可靠
布魯克在 ContourX - 500 的選材上嚴(yán)格把關(guān)。核心光學(xué)部件采用高品質(zhì)光學(xué)玻璃，具備出色的透光性和低色散特性，減少光線傳播中的能量損失與圖像畸變，保證測量成像清晰準(zhǔn)確。內(nèi)部機(jī)械結(jié)構(gòu)選用高強(qiáng)度、耐磨的金屬材料，如傳動部件采用優(yōu)質(zhì)合金鋼，確保長期高頻使用下，依然維持精確的運(yùn)動精度和良好的機(jī)械性能，延長設(shè)備使用壽命，降低維護(hù)成本。設(shè)備外殼堅固且抗腐蝕，有效保護(hù)內(nèi)部精密部件，適應(yīng)多樣的使用環(huán)境。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在半導(dǎo)體工藝的質(zhì)量保證與質(zhì)量控制（QA/QC）計量中，ContourX - 500 可精確測量晶圓表面的平整度、刻蝕圖案的深度與寬度等參數(shù)，助力提升芯片制造質(zhì)量。在眼科領(lǐng)域，能對隱形眼鏡等光學(xué)器件的表面形貌進(jìn)行檢測，確保產(chǎn)品符合光學(xué)性能標(biāo)準(zhǔn)。對于微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件的研發(fā)表征，該輪廓儀可清晰呈現(xiàn)微小結(jié)構(gòu)的表面特征，為器件性能優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。憑借精巧的設(shè)計、可靠的性能與豐富的功能，布魯克 ContourX - 500 白光干涉光學(xué)輪廓儀成為桌面級微觀測量的理想選擇，為各行業(yè)的精密測量工作注入強(qiáng)大動力。布魯克白光干涉輪廓儀桌面級測量的得力之選
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