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三維光學(xué)輪廓儀
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布魯克輪廓儀:精密電子件測量優(yōu)選 精密電子元器件制造領(lǐng)域,從微型傳感器的表面結(jié)構(gòu)檢測,到 PCB 板線路的細(xì)微尺寸測量,再到連接器引腳的平整度把控,均需適配中小量程、兼顧精度與靈活性的三維測量設(shè)備。ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀憑借緊湊設(shè)計、可靠性能及靈活操作模式,恰好契合這類場景需求,成為精密電子件生產(chǎn)與研發(fā)過程中的實用測量工具。
更新時間:2025-10-22
產(chǎn)品型號:ContourX-200
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布魯克輪廓儀:半導(dǎo)體行業(yè)測量適配 半導(dǎo)體行業(yè)對產(chǎn)品表面精度的要求貫穿芯片設(shè)計、制造到封裝的全流程,從晶圓表面的微納米級缺陷檢測,到芯片封裝后的引腳平整度測量,都需要能捕捉細(xì)微特征的三維光學(xué)測量設(shè)備。ContourX-500 三維光學(xué)輪廓儀憑借高分辨率與穩(wěn)定性能,成為半導(dǎo)體行業(yè)中多種測量場景的適配選擇,為關(guān)鍵環(huán)節(jié)的質(zhì)量控制提供支持。
更新時間:2025-10-22
產(chǎn)品型號:ContourX-500
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更新時間:2025-10-22
產(chǎn)品型號:ContourX-100
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更新時間:2025-10-22
產(chǎn)品型號:ContourX-200
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更新時間:2025-10-22
產(chǎn)品型號:
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更新時間:2025-10-22
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